Know-Center auf der apc|m-Konferenz über Big Data, Maschinelles Lernen und KI

Auf der 19. Ausgabe der apc|m-Konferenz wurde Mitte April über Themen wie Halbleiter, Photovoltaik und LED diskutiert. Und über die dahinterstehenden Technologien. Das Know-Center war mit gleich mehreren ExpertInnen vertreten.

Die European Advanced Process Control and Manufacturing-Konferenz (apc|m) richtet sich an Produzenten und Wissenschaftler, die sich mit Bereichen wie Halbleitern, Photovoltaik, LED, und Flachbildschirmen beschäftigen. Die Themen, die besprochen werden, behandeln aktuelle Herausforderungen der Prozesskontrolle und Produktionseffektivität. Auf der 19. Auflage der Konferenz waren Mitte April in Villach gleich mehrere ExpertInnen des Know-Centers vertreten.

Roman Kern (Head of Knowledge Discovery) hielt etwa einen Vortrag (invited talk) unter dem Titel Possibilities and challenges of digitalisation in the semiconductor and other domains. Dabei stellte er Konzepte zu den Themen Datenwissenschaft, Digitalisierung, Big Data, Maschinelles Lernen und KI vor. Anhand von Beispielsprojekten (aus dem Halbleiter- und Automobilbereich) wurden die vielen Möglichkeiten aber auch die derzeitigen Grenzen dieser Technologien aufgezeigt – um ein spannendes Bild der derzeitigen Technologielandschaft zu zeichnen. Bernhard Geiger vom Know-Center hielt einen Vortrag unter dem Titel An Information-Theoretic Measure for Pattern Similarity in Analog Wafermaps. Und last but not least wurde unter dem Titel Evaluation of Visual Decision Support Systems used in Semiconductor Industry ein Poster präsentiert, an dem die Know-Center-Experten Vedran Sabol und Manuela Rauch mitgewirkt hatten.

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